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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列
SDD探测器。 博曼B系列可满足以下类型用户的需求:- 样品测试量相对较小- 样品仅需测量一个位置- 大型线路板镀层的抽检- 预算有限但希望日后仪器性能能有所提升- 符合IPC-4552A 博曼B
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 O系列
博曼O系列产品概述:O系列采用毛细管光学结构,拥有精准的测试性能,同时能实现极小的X射线光斑尺寸。该系列用毛细管结构取代了安装在博曼标准机型中的准直器组件。由于多导毛细管可以传递数百倍的能量信号
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 L系列
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 O系列
博曼O系列产品概述:O系列采用毛细管光学结构,测试性能良好,同时能实现小的X射线光斑尺寸。该系列用毛细管结构取代了安装在博曼标准机型中的准直器组件。由于多导毛细管可以传递数百倍的能量信号,可以有效
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 G系列
射线管。与其他型号一样,该型号也可升级为包括多个准直器,可变焦点相机和SDD探测器。 博曼G系列可满足以下类型用户的需求:- 样品测试量相对较小- 客户或供应商对于镀层提出了新要求- 主要分析珠宝或
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 L系列
博曼L系列产品概述:L系列是博曼的通用机型。该系列将更大的样品室和更大的XY平台相结合。对于大的镀件,L系列是必备品。大样品台和XY行程可实现大镀件的多点测量。 封闭式样品仓可容纳12"x22
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 P系列
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 W系列
博曼W系列产品概述:W系列采用多毛细管光学机构,可将X射线聚焦到7.5μmFWHM,是目前世界上使用XRF技术进行镀层厚度分析的最小光斑尺寸。150倍放大相机用于观察样品上的细微特征;同时配有低倍数
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 P系列
博曼P系列产品概述:P系列提供了测量各种样品尺寸,形状和数量的灵活性。它配备了一个高精度可编程XY平台,可在一个固定阶段提供多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以
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